JTAG接口

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JTAG(Joint Test Action Group；联合测试工作组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。如今，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH等器件进行编程。

JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程然后再装到板上，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对DSP芯片内部的所有部件进行编程。

JTAG芯片的边界扫描寄存器 JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。

如今大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。如今 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口

1 、 13 　 VCC 接电源

2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 　 GND 接地

3 　nTRST 　测试系统复位信号

5 　TDI 　测试数据串行输入

7 　TMS 　测试模式选择

9 　TCK 　测试时钟

11　TDO 　测试数据串行输出

12　NC 　未连接

20针JTAG接口

1　VTref 　目标板参考电压，接电源

2 VCC 　接电源

3 nTRST 　测试系统复位信号

4、6、8、10、12、14、16、18、20 　GND 接地

5 TDI 　测试数据串行输入

7 TMS 　测试模式选择

9 TCK 　测试时钟

11 RTCK 　测试时钟返回信号

13 TDO 　测试数据串行输出

15 nRESET 　目标系统复位信号

17 、 19 NC 　未连接

10针JTAG接口

仿真器端口 AVR端口备注

1. TCK TCK

2. NC NC

3. TDO TDO

4. Vtref VCC

5. TMS TMS

6. nSRST RESET

7. NC / Vsupply NC / VCC JTAG ICE仿真器：VCC；JTAG ICE mkII仿真器：NC

8. nTRST NC ATMEL尚且保留该端口，如今暂不使用它，未来可能会使用

9. TDI TDI

10.GND GND