七、改进型TTL门电路——抗饱和TTL电路
抗饱和TTL电路是目前传输速度较高的一类TTL电路。这种电路由于采用肖特基势垒二极管SBD钳位方法来达到抗饱和的效果
,一般称为SBDTTL电路(简称STTL电路),其传输速度远比基本TTL电路为高。
肖特基势垒二极管的工作特点如下:
(1)它和PN结一样,同样具有单向导电性,这种铝-硅势垒二极管导通电流的方向是从铝到硅。
(2)AL-SiSBD的导通阈值电压较低,约为0.4~0.5V ,比普通硅PN结约低0.2V。
(3)势垒二极管的导电机构是多数载流子 ,因而电荷存储效应很小。
根据前面的学习,我们已经知道,BJT工作在饱和时
,发射结和集电结都处在正向偏置,集电结正向偏置电压越大,则表明饱和程度越深。
为了限制BJT的饱和深度,在BJT的基极和集电极并联上一个导通阈值电压较低的肖特基二极管,如下图所示。
当没有SBD时,随着基级电压的升高,电流沿着蓝线方向流动。由于SBD的作用,当基级电压大于0.4V时,
SBD首先电导通,电流沿着红线方向流动(如下图所示),从而使T的基极电流不会过大(而且使T的集电结正向偏压将被钳制在0.4V左右),因此SBD起到抵抗过饱和的作用,因而又将这种电路称为
抗饱和电路,使电路的开关时间大为缩短。
下图为肖特基TTL(STTL)与非门的典型电路。与基本TTL与非门电路相比,作了若干改进。在基本的TTL电路中
,T1、T2和T3工作在深度饱和区,管内电荷存储效应对电路的开关速度影响很大。现在除T4外,其余的BJT均采用SBD钳位,以达到明显的抗饱和效果。其次,基本电路中的所有电阻值这里几乎都减半。这两项改进导致门电路的开关时间大为缩短。由于电阻值的减小也必然会引起门电路功耗的增加。
STTL门电路还有以下三点对基本TTL电路的性能作了改进:
(1)二极管D被由T4和T5所组成的复合管所代替,当输出由低电平向高电平过渡时,由于复合管电路的电流增益很大,输出电阻很小
,从而减小了电路对负载电容的充电时间。
(2)电路输入端所加的SBD—DA和DB,用来减小由门电路之间的连线而引起的杂散信号。
(3)基本电路中的Re2(1kΩ)改为由T6与Rc6
、Rb6的组合电路所代替。这个组合电路是有源非线性电阻。当其两端的电压(发射极e2对地)较低时,呈现很大的电阻,而当其两端的电压达到0.7V左右时,则呈现很小的电阻。这样,当与非门的全部输入端由低电平转向高电平时,有源电阻开始不导通使T3很快达到饱和;反之,当电路的全部输入端(或其中之一)由高电平转向低电平时,T2和T3将截止,由于T3饱和时,VBE=0.7V,在转换开始的瞬间,有源电阻的阻值很小
T3基区存储的电荷通过此低阻回路很快消散。由于这个缘故,有源非线性电路称为有源下拉电路
,它与有源上拉电路是对应的 。意即将 VBE3从0.7
V很快拉到0V,从而使输出电压很快升高,即提高了开关速度。
基于上述特点,STTL与非门具有较为理想的传输特性。与基本TTL反相器的传输特性相比,C点不再存在了,由B点直接下降到D点,即传输特性变化非常陡峭,见下图。
除典型的肖特基型(STTL)外,尚有低功耗肖特基型(LSTTL)、先进的肖特基型(ASTTL),先进的低功耗型(ALSTTL)等,它们的技术参数各有特点,是在TTL工艺的发展过程中逐步形成的。
TTL门电路的各种系列的性能比较
类型 |
基本的TTL(74系列) |
肖特基TTL(74S系列) |
低功耗肖特基TTL(74S系列) |
先进的肖特基TTL(74AS系列) |
先进的低功耗肖特基TTL(74ALS系列) |
参数 |
tpd/ns |
10 |
3 |
9 |
1.5 |
4 |
PD/mW |
10 |
20 |
2 |
20 |
1 |
DP/pJ |
100 |
60 |
18 |
30 |
4 |
|
第五节 CMOS逻辑门电路
CMOS逻辑门电路是在TTL电路问世之后
,所开发出的第二种广泛应用的数字集成器件,从发展趋势来看,由于制造工艺的改进,CMOS电路的性能有可能超越TTL而成为占主导地位的逻辑器件
。CMOS电路的工作速度可与TTL相比较,而它的功耗和抗干扰能力则远优于TTL。此外,几乎所有的超大规模存储器件
,以及PLD器件都采用CMOS艺制造,且费用较低。
早期生产的CMOS门电路为4000系列
,随后发展为4000B系列。当前与TTL兼容的CMO器件如74HCT系列等可与TTL器件交换使用。下面首先讨论CMOS反相器,然后介绍其他CMO逻辑门电路。
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MOS管结构图
MOS管主要参数:
1.开启电压VT
·开启电压(又称阈值电压):使得源极S和漏极D之间开始形成导电沟道所需的栅极电压;
·标准的N沟道MOS管,VT约为3~6V;
·通过工艺上的改进,可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2. 直流输入电阻RGS
·即在栅源极之间加的电压与栅极电流之比
·这一特性有时以流过栅极的栅流表示
·MOS管的RGS可以很容易地超过1010Ω。
3. 漏源击穿电压BVDS
·在VGS=0(增强型)的条件下
,在增加漏源电压过程中使ID开始剧增时的VDS称为漏源击穿电压BVDS
·ID剧增的原因有下列两个方面:
(1)漏极附近耗尽层的雪崩击穿
(2)漏源极间的穿通击穿
·有些MOS管中,其沟道长度较短,不断增加VDS会使漏区的耗尽层一直扩展到源区,使沟道长度为零,即产生漏源间的穿通,穿通后
,源区中的多数载流子,将直接受耗尽层电场的吸引,到达漏区,产生大的ID
4. 栅源击穿电压BVGS
·在增加栅源电压过程中,使栅极电流IG由零开始剧增时的VGS,称为栅源击穿电压BVGS。
5. 低频跨导gm
·在VDS为某一固定数值的条件下
,漏极电流的微变量和引起这个变化的栅源电压微变量之比称为跨导
·gm反映了栅源电压对漏极电流的控制能力
·是表征MOS管放大能力的一个重要参数
·一般在十分之几至几mA/V的范围内
6. 导通电阻RON
·导通电阻RON说明了VDS对ID的影响 ,是漏极特性某一点切线的斜率的倒数
·在饱和区,ID几乎不随VDS改变,RON的数值很大 ,一般在几十千欧到几百千欧之间
·由于在数字电路中
,MOS管导通时经常工作在VDS=0的状态下,所以这时的导通电阻RON可用原点的RON来近似
·对一般的MOS管而言,RON的数值在几百欧以内
7. 极间电容
·三个电极之间都存在着极间电容:栅源电容CGS 、栅漏电容CGD和漏源电容CDS
·CGS和CGD约为1~3pF
·CDS约在0.1~1pF之间
8. 低频噪声系数NF
·噪声是由管子内部载流子运动的不规则性所引起的
·由于它的存在,就使一个放大器即便在没有信号输人时,在输 出端也出现不规则的电压或电流变化
·噪声性能的大小通常用噪声系数NF来表示,它的单位为分贝(dB)
·这个数值越小,代表管子所产生的噪声越小
·低频噪声系数是在低频范围内测出的噪声系数
·场效应管的噪声系数约为几个分贝,它比双极性三极管的要小
一、CMOS反相器
由本书模拟部分已知,MOSFET有P沟道和N沟道两种,每种中又有耗尽型和增强型两类。由N沟道和P沟道两种MOSFET组成的电路称为互补MOS或CMOS电路。
下图表示CMOS反相器电路,由两只增强型MOSFET组成,其中一个为N沟道结构,另一个为P沟道结构。为了电路能正常工作,要求电源电压VDD大于两个管子的开启电压的绝对值之和,即
VDD>(VTN+|VTP|) 。
1.工作原理
首先考虑两种极限情况:当vI处于逻辑0时
,相应的电压近似为0V;而当vI处于逻辑1时,相应的电压近似为VDD。假设在两种情况下N沟道管
TN为工作管P沟道管TP为负载管。但是,由于电路是互补对称的,这种假设可以是任意的,相反的情况亦将导致相同的结果。
下图分析了当vI=VDD时的工作情况。在TN的输出特性iD—vDS(vGSN=VDD)(注意vDSN=vO)上
,叠加一条负载线,它是负载管TP在
vSGP=0V时的输出特性iD-vSD。由于vSGP<VT(VTN=|VTP|=VT),负载曲线几乎是一条与横轴重合的水平线。两条曲线的交点即工作点。显然,这时的输出电压vOL≈0V(典型值<10mV
,而通过两管的电流接近于零。这就是说,电路的功耗很小(微瓦量级)
下图分析了另一种极限情况,此时对应于vI=0V。此时工作管TN在vGSN=0的情况下运用,其输出特性iD-vDS几乎与横轴重合
,负载曲线是负载管TP在vsGP=VDD时的输出特性iD-vDS。由图可知,工作点决定了VO=VOH≈VDD;通过两器件的电流接近零值
。可见上述两种极限情况下的功耗都很低。
由此可知,基本CMOS反相器近似于一理想的逻辑单元,其输出电压接近于零或+VDD,而功耗几乎为零。
2.传输特性
下图为CMOS反相器的传输特性图。图中VDD=10V,VTN=|VTP|=VT=
2V。由于 VDD>(VTN+|VTP|),因此,当VDD-|VTP|>vI>VTN
时,TN和TP两管同时导通。考虑到电路是互补对称的,一器件可将另一器件视为它的漏极负载。还应注意到,器件在放大区(饱和区)呈现恒流特性,两器件之一可当作高阻值的负载。因此,在过渡区域,传输特性变化比较急剧。两管在VI=VDD/2处转换状态。
3.工作速度
CMOS反相器在电容负载情况下,它的开通时间与关闭时间是相等的,这是因为电路具有互补对称的性质。下图表示当vI=0V时
,TN截止,TP导通,由VDD通过TP向负载电容CL充电的情况。由于CMOS反相器中,两管的gm值均设计得较大,其导通电阻较小,充电回路的时间常数较小。类似地,亦可分析电容CL的放电过程。CMOS反相器的平均传输延迟时间约为10ns。
二、CMOS门电路
1.与非门电路
下图是2输入端CMOS与非门电路,其中包括两个串联的N沟道增强型MOS管和两个并联的P沟道增强型MOS管。每个输入端连到一个N沟道和一个P沟道MOS管的栅极。当输入端A、B中只要有一个为低电平时,就会使与它相连的NMOS管截止,与它相连的PMOS管导通,输出为高电平;仅当A、B全为高电平时,才会使两个串联的NMOS管都导通,使两个并联的PMOS管都截止,输出为低电平。
因此,这种电路具有与非的逻辑功能,即
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n个输入端的与非门必须有n个NMOS管串联和n个PMOS管并联。
2.或非门电路
下图是2输入端CMOS或非门电路。其中包括两个并联的N沟道增强型MOS管和两个串联的P沟道增强型MOS管。
当输入端A、B中只要有一个为高电平时,就会使与它相连的NMOS管导通,与它相连的PMOS管截止,输出为低电平;仅当A、B全为低电平时,两个并联NMOS管都截止,两个串联的PMOS管都导通,输出为高电平。
因此,这种电路具有或非的逻辑功能,其逻辑表达式为
显然,n个输入端的或非门必须有n个NMOS管并联和n个PMOS管并联。
比较CMOS与非门和或非门可知,与非门的工作管是彼此串联的,其输出电压随管子个数的增加而增加;或非门则相反,工作管彼此并联,对输出电压不致有明显的影响。因而或非门用得较多。
3.异或门电路
上图为CMOS异或门电路。它由一级或非门和一级与或非门组成。或非门的输出
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。而与或非门的输出L即为输入A、B的
异或
如在异或门的后面增加一级反相器就构成异或非门,由于具有
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的功能,因而称为同或门。异成门和同或门的逻辑符号如下图所示。
三、BiCMOS门电路
双极型CMOS或BiCMOS的特点在于,利用了双极型器件的速度快和MOSFET的功耗低两方面的优势,因而这种逻辑门电路受到用户的重视
。
1.BiCMOS反相器
上图表示基本的BiCMOS反相器电路,为了清楚起见,MOSFET用符号M表示BJT用T表示。T1和T2构成推拉式输出级。而Mp、
MN、M1、M2所组成的输入级与基本的CMOS反相器很相似。输入信号vI同时作用于MP和MN的栅极。当vI为高电压时MN导通而MP截止;而当vI
为低电压时,情况则相反,Mp导通,MN截止。当输出端接有同类BiCMOS门电路时,输出级能提供足够大的电流为电容性负载充电。同理,已充电的电容负载也能迅速地通过T2放电。
上述电路中T1和T2的基区存储电荷亦可通过M1和M2释放,以加快
电路的开关速度。当vI为高电压时M1导通,T1基区的存储电荷迅速消散。这种作用与TTL门电路的输入级中T1类似。同理
,当vI为低电压时,电源电压VDD通过MP以激励M2使M2导通,显然T2基区的存储电荷通过M2而消散。可见,门电路的开关速度可得到改善。
2.BiCMOS门电路
根据前述的CMOS门电路的结构和工作原理,同样可以用BiCMOS技术实现或非门和与非门。如果要实现或非逻辑关系,输入信号用来驱动并联的N沟道MOSFET,而P沟道MOSFET则彼此串联。正如下图所示的
2输入端或非门。
当A和B均为低电平时,则两个MOSFET
MPA和MPB均导通,T1导通而MNA和MNB均截止,输出L为高电平。与此同时,M1通过MPA和MpB被VDD所激励,从而为T2的基区存储电荷提供一条释放通路。
另一方面,当两输入端A和B中之一为高电平时
,则MpA和MpB的通路被断开,并且MNA或MNB导通,将使输出端为低电平。同时,M1A或M1B为T1的基极存储电荷提供一条释放道路。因此
,只要有一个输入端接高电平,输出即为低电平。
四、CMOS传输门
MOSFET的输出特性在原点附近呈线性对称关系,因而它们常用作模拟开关。模拟开关广泛地用于取样——保持电路、斩波电路、模数和数模转换电路等。下面着重介绍CMOS传输门。
所谓传输门(TG)就是一种传输模拟信号的模拟开关。CMOS传输门由一个P沟道和一个N沟道增强型MOSFET并联而成,如上图所示。TP和TN是结构对称的器件,它们的漏极和源极是可互换的。设它们的开启电压|VT|=2V且输入模拟信号的变化范围为-5V到+5V
。为使衬底与漏源极之间的PN结任何时刻都不致正偏 ,故TP的衬底接+5V电压,而TN的衬底接-5V电压
。两管的栅极由互补的信号电压(+5V和-5V)来控制,分别用C和
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表示。
传输门的工作情况如下:当C端接低电压-5V时TN的栅压即为-5V,vI取-5V到+5V范围内的任意值时,TN均不导通。同时,TP的栅压为+5V
,TP亦不导通。可见,当C端接低电压时,开关是断开的。
为使开关接通,可将C端接高电压+5V。此时TN的栅压为+5V
,vI在-5V到+3V的范围内,TN导通。同时TP的棚压为-5V
,vI在-3V到+5V的范围内TP将导通。
由上分析可知,当vI<-3V时,仅有TN导通,而当vI>+3V时,仅有TP导通当vI在-3V到+3V的范围内,TN和TP两管均导通。进一步分析
还可看到,一管导通的程度愈深,另一管的导通程度则相应地减小。换句话说,当一管的导通电阻减小,则另一管的导通电阻就增加。由于两管系并联运行,可近似地认为开关的导通电阻近似为一常数。这是CMOS传输出门的优点。
在正常工作时,模拟开关的导通电阻值约为数百欧,当它与输入阻抗为兆欧级的运放串接时,可以忽略不计。
CMOS传输门除了作为传输模拟信号的开关之外,也可作为各种逻辑电路的基本单元电路。
第六节 NMOS逻辑门电路
NMOS逻辑门电路是全部由N沟道MOSFET构成。由于这种器件具有较小的几何尺寸,适合于制造大规模集成电路。此外,由于NMOS集成电路的结构简单,易于使用CAD技术进行设计。与CMOS电路类似,NMOS电路中不使用难于制造的电阻
。NMOS反相器是整个NMO逻辑门电路的基本构件,它的工作管常用增强型器件,而负载管可以是增强型也可以是耗尽型。现以增强型器件作为负载管的
NMOS反相器为例来说明它的工作原理。
上图是表示NMOS反相器的原理电路,其中T1为工作管,T2为负载管,二者均属增强型器件。若T1和T2在同一工艺过程中制成,它们必将具有相同的开启电压VT。从图中可见,负载管T2的栅极与漏极同接电源VDD,因而T2总是工作在它的恒流区,处于导通状态。当输入vI为
高电压(超过管子的开启电压VT)时,T1导通,输出vO;为低电压。输出低电压的值,由T1,T2两管导通时所呈现的电阻值之比决定。通常T1的跨导gm1远大于T2管的跨导gm2,以保证输出低电压值在+1V左右
。当输入电压vI为低电压(低于管子的开启电压VT)时,T1截止,输出vO为高电压。由于T2管总是处于导通状态,因此输出高电压值约为(VDD—VT)。通常gm1在100~200
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之间,而gm2约为5~15
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。T1导通时的等效电阻Rds1约为3~10kΩ,而T2的Rds2约在100~200kΩ之间
。负载管导通电阻是随工作电流而变化的非线性电阻。
在NMOS反相器的基础上,可以制成NMOS门电路。下图即为NMOS或非门电路。只要输入A,B中任一个为高电平,与它对应的MOSFET导通时,输出为低电平;仅当A、B全为低电平时,所有工作管都截止时,输出才为高电平。可见电路具有或非功能,即
或非门的工作管都是并联的,增加管子的个数,输出低电平基本稳定,在整体电路设计中较为方便,因而NMOS门电路是以或非门为基础的。这种门电路不像TTL或CMOS电路作成小规模的单个芯片
,主要用于大规模集成电路。
以上讨论和分析了各种逻辑门电路的结构、工作原理和性能,为便于比较,现用它们的主要技术参数传输延迟时间Tpd和功耗PD综合描述各种逻辑门电路的性能,如图所示。
第七节 正负逻辑问题
1.正负逻辑的规定
在逻辑电路中,输入和输出一般都用电平来表示。若用H和L分别表示高、低电平,则门电路的功能可用下表所示的电平表来描述。
但是,这个门体现了什么逻辑关系尚不清楚,因为还未确切说明电平与逻辑状态之间的隶属关系。这种关系可由人们任意地加以规定
。如令H=l,L=0,则称之为正逻辑体制,于是很容易由上表导出下表
。
显然,后者表示—正逻辑与非门的真值表。与此相反,若令H=0,L=1,则称之为负逻辑体制。据此
,由本例可得出负逻辑或非门的真值表,如下表所示。
对于同一电路,可以采用正逻辑,也可以采用负逻辑。正逻辑和负逻辑两种体制不牵涉到逻辑电路本身的结构问题,但根据所选正负逻辑的不同,即使同一电路也具有不同的逻辑功能。本书如无特殊说明,一律采用正逻辑,即规定高电平为逻辑1,低电平为逻辑0。
2.正负逻辑的等效变换
一般用正逻辑函数描述电路,在过渡到负逻辑时,只需按下列方式互换各种运算:
第八节 逻辑门电路使用中的几个实际问题
以上讨论了几种逻辑门电路特别是重点地讨论了
TTL和CMOS两种电路。在具体的应用中可以根据要求来选用何种器件。器件的主要技术参数有传输延迟时间、功耗、噪声容限,带负载能力等,据此可以正确地选用一种器件或两种器件混用。下面对几个实际问题,如不同门电路之间的接口技术,门电路与负载之间的匹配等进行讨论。
一、各种门电路之间的接口问题
在数字电路或系统的设计中,往往由于工作速度或者功耗指标的要求,需要采用多种逻辑器件混合使用
,例如,TTL和CMOS两种器件都要使用。由前面几节的讨论已知,每种器件的电压和电流参数各不相同,因而需要采用接口电路,一般需要考虑下面三个条件:
1.驱动器件必须能对负载器件提供灌电流最大值。
2.驱动器件必须对负载器件提供足够大的拉电流。
3.驱动器件的输出电压必须处在负载器件所要求的输入电压范围
,包括高。低电压值。
其中条件1和2,属于门电路的扇出数问题,已在第四节作过详细的分析。条件3属于电压兼容性的问题。其余如噪声容限、输入和输出电容以及开关速度等参数在某些设计中也必须予以考虑。
下面分别就CMOS门驱动TTL 门或者相反的两种情况的接口问题进行分析。
1.CMOS门驱动TTL门
在这种情况下,只要两者的电压参数兼容,不需另加接口电路,仅按电流大小计算出扇出数即可。
下图表示CMOS门驱动TTL门的简单电路
。当CMOS门的输出为高电平时,它为TTL负载提供拉电流,反之则提供灌电流。
例2.9.1——74HC00与非门电路用来驱动一个基本的TTL反相器和六个74LS门电路。试验算此时的CMOS门电路是否过载?
解:
(1)查相关手册得接口参数如下:一个基本的TTL门电路,IIL=1.6mA,六个74LS门的输入电流IIL=6×0.4mA=2.4mA。总的输入电流IIL(total)=1.6mA+2.4mA=4mA。
(2)因74HC00门电路的IOL=IIL=4mA,所驱动的TTL门电路未过载。
2. TTL门驱动CMOS门
此时TTL为驱动器件,CMOS为负载器件。由手册可知,当TTL输入为低电平时
,它的输出电压参数与CMOS
HC的输入电压参数是不兼容的。例如,LSTTL的VOH(min)为2.7V,而HC
CMOS的VIH(min)为3.5V。为了克服这一矛盾,常采用如上图所示的接口措施。由图可知,用上拉电阻Rp接到VDD可将TTL的输出高电平电压升到约5V,上拉电阻的值取决于负载器件的数目以及TTL和CMOS的电流参数。
当TTL驱动CMO——HCT时,由于电压参数兼容 ,不需另加接口电路。基于这一情况,在数字电路设计中
,也常用CMOS——HCT当作接口器件,以免除上拉电阻。
二、门电路带负载时的接口电路
1.用门电路直接驱动显示器件
在数字电路中,往往需要用发光二极管来显示信息的传输,如简单的逻辑器件的状态,七段数码显示,图形符号显示等。在每种情况下均需接口电路将数字信息转换为模拟信息显示。
下图(a)表示CMOS反相器74HC04驱动一发光二极管LED,电路中串接了一限流电阻R以保护LED。限流电阻的大小可分别按下面两种情况来计算。当图中门电路的输入为低电平时,输出为高电平,于是
反之,当LED接人电路的情况如上图(b)所示时,门电路的输入信号应为高电平,输出为低电平,故有
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以上两式中,ID——LED的电流,VF——LED的正向压降,VOH和VOL为门电路的输出高、低电平电压,常取典型值。
2.机电性负载接口
在工程实践中,往往会遇到用各种数字电路以控制机电性系统的功能,如控制电动机的位置和转速,继电器的接通与断开,流体系统中的阀门的开通和关闭,自动生产线中的机械手多参数控制等。下面以继电器的接口电路为例来说明。在继电器的应用中,继电器本身有额定的电压和电流参数。一般情况下,需用运算放大器以提升到必须的数一模电压和电流接口值。对于小型继电器,可以将两个反相器并联作为驱动电路,如下图所示。
三、抗干扰措施
在利用逻辑门电路(TTL或CMOS)作具体的设计时,还应当注意下列几个实际问题:
1.多余输入端的处理措施
集成逻辑门电路在使用时,一般不让多余的输入端悬空,以防止干扰信号引人。对多余输入端的处理以不改变电路工作状态及稳定可靠为原则。
对于TTL与非门,一般可将多余的输入端通过上拉电阻(1~3kΩ
)接电源正端,也可利用一反相器将其输入端接地,其输出高电位可接多余的输入端。
对于CMOS电路,多余输入端可根据需要使之接地(或非门)或直接接VDD(与非门)。
2.去耦合滤波器
数字电路或系统往往是由多片逻辑门电路构成,它们是由一公共的直流电源供电。这种电源是非理想的,一般是由整流稳压电路供电
,具有一定的内阻抗。当数字电路运行时,产生较大的脉冲电流或尖峰电流,当它们流经公共的内阻抗时,必将产生相互的影响,甚至使逻辑功能发生错乱。一种常用的处理方法是采用去耦合滤波器,通常是用10~100uF
的大电容器与直流电源并联以滤除不需的频率成分。除此以外,对于每一集成芯片还加接0.luF的电容器以滤除开关噪声。
3.接地和安装工艺
正确的接地技术对于降低电路噪声是很重要的。这方面可将电源地与信号地分开,先将信号地汇集在一点,然后将二者用最短的导线连在一起,以避免含有多种脉冲波形(含尖峰电流)的大电流引到某数字器件的输入端而导致系统正常的逻辑功能失效。此外,当系统中兼有模拟和数字两种器件时,同样需将二者的地分开,然后再选用一个合适共同点接地,以免除二者之间的影响。必要时,也可设计模拟和数字两块电路板,各备直流电源,然后将二者恰当的地连接在一起
。在印刷电路板的设计或安装中,要注意连线尽可能短,以减少接线电容而导致寄生反馈有可能引起寄生振荡。有关这方面技术问题的详细介绍,可参阅有关文献。集成数字电路的数据手册,也提供某些典型电路应用设计,亦是有益的参考资料。
此外,CMOS器件在使用和储藏过程中要注意静电感应导致损伤的问题。静电屏蔽是常用的防护措施。